| Authors: |
Calkins, H.; Hindricks, G.; Cappato, R.; Kim, Y. H.; Saad, E. B.; Aguinaga, L.; Akar, J. G.; Badhwar, V.; Brugada, J.; Camm, J.; Chen, P. S.; Chen, S. A.; Chung, M. K.; Cosedis Nielsen, J.; Curtis, A. B.; Davies, D. W.; Day, J. D.; d'Avila, A.; Natasja de Groot, N. M. S.; Di Biase, L.; Duytschaever, M.; Edgerton, J. R.; Ellenbogen, K. A.; Ellinor, P. T.; Ernst, S.; Fenelon, G.; Gerstenfeld, E. P.; Haines, D. E.; Haissaguerre, M.; Helm, R. H.; Hylek, E.; Jackman, W. M.; Jalife, J.; Kalman, J. M.; Kautzner, J.; Kottkamp, H.; Kuck, K. H.; Kumagai, K.; Lee, R; Lewalter, T.; Lindsay, B. D.; Macle, L.; Mansour, M.; Marchlinski, F. E.; Michaud, G. F.; Nakagawa, H.; Natale, A.; Nattel, S.; Okumura, K.; Packer, D.; Pokushalov, E.; Reynolds, M. R.; Sanders, P.; Scanavacca, M.; Schilling, R.; Tondo, C; Tsao, H. M.; Verma, A.; Wilber, D. J.; Yamane, T.; Document Reviewers: |
34